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LEICA MICROSYSTEMS
Allemagne
Profilomètre optique pour la métrologie des surfaces sans contact en 3D. Combine la métrologie confocale en HD avec l'interférométrie en un système polyvalent Dual Core. Les logiciels performants, la simple sélection de modules en un seul clic et la numérisation confocale sans pièces mobiles facilitent l'analyse. Mesure confocal HD avec résolution verticale jusqu'à 2nm pour les surfaces en pente et les structures complexes. Interferométrie avec une résolution jusqu'à 0,1 mm même pour les surfaces avec microstructures. Capture de données rapide et reproductible grâce à la technologie innovante de balayage microdisplay HD sans pièces mobiles dans la tête du capteur. La caméra CCD-HD intégrée a un champ de vision très large pour l'analyse de zones plus grandes. Imagerie en couleur réaliste grâce à quatre diodes varicolor LED dans la tête du capteur.
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