Ntegra Spectra II - Systèmes AFM-Raman-Nano-IR

AFM polyvalent haute performance Accès optique par le haut, le côté et le bas optimisé pour Raman, TERS et SNOM Conception optique flexible offrant n'importe quelle combinaison de configurations d'excitation/collection Alignement automatisé du laser AFM, de la sonde et du photodiode Changement convivial de la longueur d'onde du laser du système d'enregistrement AFM et du photodiode Changement facile et convivial des objectifs Intégration avec IR sSNOM (optionnel) Depuis 1998, NTMDT intègre avec succès l'AFM avec des techniques de microscopie et de spectroscopie optiques. Plus de 30 modes AFM de base et avancés, y compris le mode HybriD ModeTM, sont pris en charge, fournissant des informations étendues sur les propriétés physiques de la surface de l'échantillon. L'intégration de l'AFM avec la microscopie/confocal Raman/fluorescence fournit la plus large gamme d'informations supplémentaires sur l'échantillon. Les cartes AFM et Raman mesurées simultanément de la même zone d'échantillon fournissent des informations complémentaires sur les propriétés physiques de l'échantillon (AFM) et la composition chimique (Raman). Résolution spatiale limitée par diffraction : <200 nm en XY, <500 nm en Z (avec objectif d'immersion) AFM haute performance à faible bruit : bruit Z <0,1 nm (RMS dans une bande passante de 10‑1000 Hz) Réseau à échelle avec dispersion ultrahaute ; résolution spectrale : 0,007 nm (< 0,1 cm‑1) Spectroscopie Raman à faible nombre d'onde/THz : <10 cm-1 avec filtres de volume de Bragg Objectifs interchangeables avec montures cinématiques : précision <2 µm Double balayage : balayage par échantillon ET balayage par point laser (pour le mapping Hot Spot en TERS) Toutes les géométries TERS existantes sont disponibles : illumination/collection par le bas, par le haut ou par le côté