... Entre autres, des systèmes de capture de données multi-canaux configurables avec un taux d'échantillonnage élevé et un échantillonnage simultané, ainsi que des systèmes de mesure optique spéciaux ont été développés. Par exemple, pour l'examen haute résolution de la topographie des surfaces d'objets réfléchissants, ainsi que pour l'examen de la conformité de forme des ailes et des volets, ou encore pour la détection de défauts cachés (délaminage) dans des composants structurels en matériaux composites.
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